| 加工定制：是 | 类型：薄膜测厚仪 | 品牌：DeFelsko |
| 型号：6000NAS1 | 测量范围：0～625μm（mm） mm | 显示方式：数显 |
| 电源电压：电池（V） V | 外形尺寸：6000NAS1（mm） mm |
美国狄夫斯高DeFelsko 6000NAS1涂层测厚仪,氧化膜测厚仪,铝基体涂层测厚仪
6000NAS1基本型涂层测厚仪测量铝阳极氧化膜的厚度,
| 简单 | -直接测量(无需校准即可满足大部分应用) -单手菜单操作 --灯光提示：便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果 -重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态 |
| 耐用 | -耐磨探头 |
| *** | -每台仪器都有校准证书，符合NIST标准 -内置温度补偿以确保测量精度 -高分辨率模式可提高显示分辨率 -符合美国和***，包括***和ASTM标准 |
| 多功能 | -多种校准模式，包括一点、两点、零点校准 |
6000NAS1涂层测厚仪技术参数：
量程：0～625μm
精度：0～100μm时±(0.5μm +1%);
>100μm时±(2μm +3%)
6000NAS1涂层测厚仪标准配置:主机、探头、标准试片、带腰夹的橡胶保护套、三节7号电池、证书、说明书、尼龙包各一
美国DeFelsko 6000系列涂层测厚仪选型表：
